HP-S-X1 掃描探測系統
HP-S-X1是高精度連續掃描測頭家族，支持各種標準測量模式。例如：
單點觸發測量，自定心測量和連續高速掃描測量;
HP-S-X1測頭利用不同的掃描模塊，可分別攜帶不同長度的測針（含吸盤長度），且其僅30mm直徑的緊湊結構允許測頭最大限度的接近被測工件，并可深入工件內部進行測量。
HP-S-X1S: 豎直方向20～115mm，水平方向0~20mm
HP-S-X1H/HP-S-X1H: 豎直方向20～225mm，水平方向0～100mm
最小測針球徑可達0.1mm，更易測量微小特征
